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検索キーワード:(件名: Speckle metrology Congresses)
該当件数:1件
Interferometry in speckle light : theory and applications : proceedings of the international conference, 25-28 September 2000, Lausanne, Switzerland / P. Jacquot and J.-M. Fournier (eds.)
: hbk. - Berlin ; Tokyo : Springer , c2000. - (Physics and astronomy online library)
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