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検索キーワード:(標準分類: QH212.S33)
該当件数:4件
Near field optics / edited by Dieter W. Pohl and Daniel Courjon
Dordrecht ; Boston : Kluwer Academic , c1993. - (NATO ASI series ; ser. E . Applied science ; v. 242)
図書
Scanning probe microscopy : analytical methods / Roland Wiesendanger (ed.)
Berlin : Springer-Verlag , c1998. - (Nanoscience and technology)
Exploring scanning probe microscopy with Mathematica / Dror Sarid
: cloth. - New York : Wiley , c1997
Scanning probe microscopy : electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale / Sergei Kalinin, Alexei Gruverman, editors
v. 1,v. 2. - New York : Springer Science+Business Media , c2007