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検索キーワード:(件名: Thin films Measurement)
該当件数:4件
A practical guide to optical metrology for thin films / Michael Quinten
pbk.. - Weinheim : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA , c2013
図書
Ellipsometry for industrial applications / Karl Riedling
: us,: gw. - Wien ; New York : Springer-Verlag , 1988
New Horizons of Applied Scanning Electron Microscopy / by Kenichi Shimizu, Tomoaki Mitani
(Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg , 2010). - (Springer Series in Surface Sciences. ISSN:09315195 ; 45)
電子ブック
Optical Measurement of Surface Topography / edited by Richard Leach
Berlin, Heidelberg : Springer-Verlag Berlin Heidelberg , 2011