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検索キーワード:(件名: #Scanning probe microscopy)
該当件数:6件
Scanning probe microscopy : analytical methods / Roland Wiesendanger (ed.)
Berlin : Springer-Verlag , c1998. - (Nanoscience and technology)
図書
Near field optics / edited by Dieter W. Pohl and Daniel Courjon
Dordrecht ; Boston : Kluwer Academic , c1993. - (NATO ASI series ; ser. E . Applied science ; v. 242)
Theory of STM and related scanning probe methods / R. Wiesendanger, H.-J. Güntherodt (eds.)
: gw,: us. - Berlin ; New York : Springer-Verlag , c1993. - (Springer series in surface sciences ; 29 . Scanning tunneling microscopy ; 3)
Scanning probe microscopy : electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale / Sergei Kalinin, Alexei Gruverman, editors
v. 1,v. 2. - New York : Springer Science+Business Media , c2007
Exploring scanning probe microscopy with Mathematica / Dror Sarid
: cloth. - New York : Wiley , c1997
Forces in scanning probe methods / edited by H.-J. Güntherodt, D. Anselmetti and E. Meyer
Dordrecht ; London : Kluwer Academic , c1995. - (NATO ASI series ; Seires E . Applied Science ; no. 286)