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ニジ イオン シツリョウ ブンセキホウ
二次イオン質量分析法 / 日本表面真空学会編
(表面分析技術選書)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 著者標目 | 日本表面科学会 編者 <ニホン ヒョウメン カガクカイ> |
| 出版情報 | 東京 : 丸善出版 , 2025.5 |
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| 別書名 | その他のタイトル:Secondary ion mass spectrometry その他のタイトル:SIMS 異なりアクセスタイトル:二次イオン質量分析法 |
|---|---|
| 版 | 第2版 |
| 巻次 | ISBN:9784621311356 ; PRICE:4400円 |
| 大きさ | ix, 226p : 挿図 ; 21cm |
| 本文言語 | 日本語 |
| 一般注記 | 表現種別: テキスト (ncrcontent), 機器種別: 機器不用 (ncrmedia), キャリア種別: 冊子 (ncrcarrier) 初版: 丸善 1999年刊 その他のタイトルはブックジャケットによる 引用・参考文献: 各章末 |
| 件 名 | BSH:表面(工学) BSH:イオンビーム BSH:質量分析 NDLSH:表面 (工学) NDLSH:質量分析 NDLSH:イオンビーム |
| 分 類 | NDC9:428.4 NDC10:428.4 NDLC:MC141 |
| 書誌ID | 1000246718 |
| ISBN | 9784621311356 |
| NCID | BD12063477 |