ヒョウメン ブンセキ ギジュツ センショ
表面分析技術選書
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版情報 | 東京 : 丸善 , 1998.6- |
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| 1 | X線光電子分光法 / 日本表面科学会編 東京 : 丸善 , 1998.7 |
| 2 | 透過型電子顕微鏡 / 日本表面科学会編 東京 : 丸善 , 1999.3 |
| 3 | オージェ電子分光法 / 日本表面科学会編 東京 : 丸善 , 2001.2 |
| 4 | ナノテクノロジーのための走査プローブ顕微鏡 / 日本表面科学会編 東京 : 丸善 , 2002.8 |
| 5 | ナノテクノロジーのための表面電子回折法 / 日本表面科学会編 東京 : 丸善 , 2003.3 |
| 6 | ナノテクノロジーのための走査電子顕微鏡 / 日本表面科学会編 東京 : 丸善 , 2004.2 |
| 7 | 計算シミュレーションと分析データ解析 / 日本表面科学会編 東京 : 丸善 , 2008.1 |
| 8 | 二次イオン質量分析法 / 日本表面真空学会編 第2版. - 東京 : 丸善出版 , 2025.5 |
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| 大きさ | 冊 ; 21cm |
|---|---|
| 本文言語 | 日本語 |
| 書誌ID | 1000086135 |
| NCID | BA35959660 |

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