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ロンリ ト テスト
論理とテスト / 樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]
(岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達 [ほか] 編 ; 4 . VLSIの設計 ; 2)

データ種別	図書
著者標目	樹下, 行三(1936-) <キノシタ, コウゾウ> 浅田, 邦博 <アサダ, クニヒロ> 唐津, 修(1947-) <カラツ, オサム>
出版情報	東京 : 岩波書店 , 1985.5

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