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VLSI reliability / Anant G. Sabnis
(VLSI electronics : microstructure science / edited by Norman G. Einspruch ; v. 22)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 著者標目 | *Sabnis, Anant G. |
| 出版者 | San Diego ; Tokyo : Academic Press |
| 出版年 | c1990 |
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| 巻次 | ISBN:0122341228 |
|---|---|
| 大きさ | xiii, 207 p. : ill. ; 24 cm |
| 本文言語 | 英語 |
| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
| 件 名 | LCSH:Integrated circuits -- Very large scale integration -- Reliability 全ての件名で検索 |
| 分 類 | LCC:TK7874 DC20:621.39/5 s DC20:621.39/5 NDC8:549.7 |
| 書誌ID | 1000053486 |
| ISBN | 0122341228 |
| NCID | BA10165146 |