Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / Brent Fultz, James Howe
データ種別 | 図書 |
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著者標目 | *Fultz, B. Howe, James M., 1955- |
出版者 | Berlin ; Tokyo : Springer |
出版年 | 2001 |
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巻次 | ISBN:3540678417 |
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大きさ | xix, 748 p. : ill. ; 24 cm |
本文言語 | 英語 |
一般注記 | Includes bibliographical references and index |
件 名 | LCSH:Materials -- Microscopy
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LCSH:Transmission electron microscopy LCSH:X-ray diffractometer |
分 類 | LCC:TA417.23 DC21:620.1/1299 |
書誌ID | 1000114515 |
ISBN | 3540678417 |
NCID | BA50935635 |