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Semiconductor material and device characterization / Dieter K. Schroder
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 著者標目 | *Schroder, Dieter K. |
| 出版者 | [S.l.] : IEEE Press |
| 出版者 | Hoboken, N.J. : Wiley-Interscience |
| 出版年 | c2006 |
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| 版 | 3rd ed |
|---|---|
| 巻次 | ISBN:9780471739067 ; XISBN:0471739065 |
| 大きさ | xv, 779 p. : ill. ; 25 cm |
| 本文言語 | 英語 |
| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
| 件 名 | LCSH:Semiconductors LCSH:Semiconductors -- Testing 全ての件名で検索 |
| 分 類 | LCC:QC611 DC21:621.3815/2 NDLC:MC151 |
| 書誌ID | 1000184043 |
| ISBN | 9780471739067 |
| NCID | BA76086798 |