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Semiconductor material and device characterization / Dieter K. Schroder
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 著者標目 | *Schroder, Dieter K. |
| 出版者 | New York : Wiley |
| 出版年 | c1990 |
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| 巻次 | ISBN:0471511048 |
|---|---|
| 大きさ | xv, 599 p. : ill. ; 25 cm |
| 本文言語 | 英語 |
| 一般注記 | "A Wiley-Interscience publication." Includes bibliographical references and index |
| 件 名 | LCSH:Semiconductors LCSH:Semiconductors -- Testing 全ての件名で検索 |
| 分 類 | LCC:QC611 DC20:621.381/52 |
| 書誌ID | 1000164269 |
| ISBN | 0471511048 |
| NCID | BA10754759 |