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Speckle metrology / edited by Rajpal S. Sirohi
(Optical engineering ; v. 38)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 著者標目 | Sirohi, Rajpal S. |
| 出版者 | New York : Marcel Dekker Inc. |
| 出版年 | c1993 |
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| 巻次 | ISBN:0824789326 |
|---|---|
| 大きさ | xiii, 551 p. : ill. ; 24 cm |
| 本文言語 | 英語 |
| 件 名 | LCSH:Non-destructive testing LCSH:Speckle metrology |
| 分 類 | LCC:TA417.2 DC20:620.1/127 |
| 書誌ID | 1000060713 |
| ISBN | 0824789326 |
| NCID | BA20564159 |