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JTAG テスト ノ キソ ト オウヨウ : シンジダイ ノ デンシ カイロ キバン ノ テスト シュホウ ト サマザマナ オウヨウ ジレイ
JTAGテストの基礎と応用 : 新時代の電子回路基板のテスト手法とさまざまな応用事例 / 坂巻佳壽美著
(I/F essence)

データ種別 図書
著者標目 坂巻, 佳寿美(1950-) <サカマキ, カズミ>
出版者 東京 : CQ出版
出版年 1998.12

所蔵情報を非表示

小金井・別置図書室
549 60279056
4789836827
工・物理システム工学科図書室
549 60192544
4789836827

書誌詳細を非表示

巻次 ISBN:4789836827 ; PRICE:1800円+税
大きさ 182p ; 21cm
本文言語 日本語
一般注記 参考文献: p180
件 名 BSH:集積回路
分 類 NDC8:549.7
NDC9:549.7
書誌ID 1000091262
ISBN 4789836827
NCID BA39259718

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