この文献を取り寄せる

このページのリンク

LSI ノ シンライセイ
LSIの信頼性 / 二川清編著 ; 塩野登 [ほか] 著
(信頼性技術叢書)

データ種別 図書
著者標目 二川, 清(1949-) <ニカワ, キヨシ>
塩野, 登(1947-) <シオノ, ノボル>
横川, 慎二(1970-) <ヨコガワ, シンジ>
福田, 保裕(1953-) <フクダ, ヤスヒロ>
三井, 泰裕(1944-) <ミツイ, ヤスヒロ>
信頼性技術叢書編集委員会 <シンライセイ ギジュツ ソウショ ヘンシュウ イインカイ>
出版者 東京 : 日科技連出版社
出版年 2010.10

所蔵情報を非表示

小金井・閲覧室一般書
549.7 60718477
9784817193636

書誌詳細を非表示

別書名 異なりアクセスタイトル:LSIの信頼性
巻次 ISBN:9784817193636 ; PRICE:3000円+税
大きさ viii, 183p, 図版 [2] p : 挿図 ; 21cm
本文言語 日本語
一般注記 その他の著者: 横川慎二, 福田保裕, 三井泰裕
監修者: 信頼性技術叢書編集委員会
参考文献: 章末
件 名 BSH:集積回路
BSH:信頼性(工学)
分 類 NDC8:549.7
NDC9:549.7
書誌ID 1000205806
ISBN 9784817193636
NCID BB03841227

 類似資料