Microelectronic Test Structures for CMOS Technology / by Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen
データ種別 | 電子ブック |
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著者標目 | *Bhushan, Manjul Ketchen, Mark B. SpringerLink (Online service) |
出版者 | New York, NY : Springer Science+Business Media, LLC |
出版年 | 2011 |
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巻次 | ISBN:9781441993779 |
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大きさ | v.: digital |
本文言語 | 英語 |
件 名 | LCSH:Engineering LCSH:Electronics LCSH:Systems engineering LCSH:Optical materials FREE:Engineering FREE:Electronics and Microelectronics, Instrumentation FREE:Optical and Electronic Materials FREE:Circuits and Systems |
書誌ID | OB00004086 |
ISBN | 9781441993779 |
NCID | LB40007062 |