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Aberration-corrected electron microscopy / edited by Peter W. Hawkes
(Advances in imaging and electron physics / edited by Peter W. Hawkes ; v. 153)

データ種別 図書
著者標目 Hawkes, P. W. (Peter William), 1937-
出版者 Amsterdam ; Tokyo : Elsevier Academic Press
出版年 2008

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小金井・閲覧室一般書
549/AE153 60638768
9780123742209

書誌詳細を非表示

巻次 ISBN:9780123742209
大きさ xv, 538 p., [32] p. of plates : ill. (some col.) ; 24 cm
本文言語 英語
一般注記 Includes bibliographical references and index
書誌ID 1000187982
ISBN 9780123742209
NCID BA88259270