Aberration-corrected electron microscopy / edited by Peter W. Hawkes
(Advances in imaging and electron physics / edited by Peter W. Hawkes ; v. 153)
データ種別 | 図書 |
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著者標目 | Hawkes, P. W. (Peter William), 1937- |
出版者 | Amsterdam ; Tokyo : Elsevier Academic Press |
出版年 | 2008 |
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巻次 | ISBN:9780123742209 |
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大きさ | xv, 538 p., [32] p. of plates : ill. (some col.) ; 24 cm |
本文言語 | 英語 |
一般注記 | Includes bibliographical references and index |
書誌ID | 1000187982 |
ISBN | 9780123742209 |
NCID | BA88259270 |