Defect recognition and image processing in III-V compounds : proceedings of the International Symposium on Defect Recogition and Image Processing in III-V Compounds (DRIP 1985), Montpellier, France, July 2-4, 1985 / edited by J.P. Fillard
(Materials science monographs ; 31)
データ種別 | 図書 |
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著者標目 | *International Symposium on Defect Recognition and Image Processing in III-V Compounds (1985 : Montpellier, France) Fillard, J. P. |
出版者 | Amsterdam ; Tokyo : Elsevier |
出版年 | 1985 |
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巻次 | ISBN:0444425586 |
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大きさ | xii, 306 p. : ill. ; 25 cm |
本文言語 | 英語 |
一般注記 | Includes bibliographies and index |
件 名 | LCSH:Semiconductors -- Defects -- Congresses
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LCSH:Gallium arsenide -- Congresses 全ての件名で検索 LCSH:Image processing -- Congresses 全ての件名で検索 |
分 類 | LCC:TK7871.85 DC19:621.3815/2 |
書誌ID | 1000175151 |
ISBN | 0444425586 |
NCID | BA00230809 |