Mendeley出力
Lifetime spectroscopy : a method of defect characterization in silicon for photovoltaic applications / S. Rein
(Springer series in materials science ; v. 85)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 著者標目 | *Rein, Stefan |
| 出版者 | Berlin : Springer |
| 出版年 | 2005 |
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| 巻次 | hd. bd. ; ISBN:3540253033 |
|---|---|
| 大きさ | xxvi, 489 p. : 153 fig. (some col.), 29 tab. ; 25 cm |
| 本文言語 | 英語 |
| 書誌ID | 1000167781 |
| ISBN | 3540253033 |
| NCID | BA7254577X |