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Quantitative X-ray diffractometry / Lev S. Zevin, Giora Kimmel ; edited by Inez Mureinik
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 著者標目 | *Zevin, Lev S. Kimmel, Giora Mureinik, Inez |
| 出版者 | New York ; Tokyo : Springer |
| 出版年 | c1995 |
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| 巻次 | ISBN:0387945415 |
|---|---|
| 大きさ | xvii, 372 p. : ill. ; 25 cm |
| 本文言語 | 英語 |
| 一般注記 | Bibliography: p. 355-364 Includes index |
| 件 名 | LCSH:X-rays -- Diffraction
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| 分 類 | LCC:QC482.D5 DC20:545/.81 |
| 書誌ID | 1000079307 |
| ISBN | 0387945415 |
| NCID | BA27038245 |