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IEEE transactions on reliability / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| データ種別 | 雑誌 |
|---|---|
| 著者標目 | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| 出版者 | New York |
| 変遷注記 | 継続前誌:IRE transactions on reliability and quality control / Institute of Radio Engineers |
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| 配架場所 | 所蔵巻号 | 年次 | 請求記号 | コメント |
|---|---|---|---|---|
| 小金井図書館 | 23(5),24,35-47 | 1974-1998 |
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| 小金井・JICST資料室(禁帯出) | (C448AB)12-19,20(3),21 | 1963-1972 |
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| 別書名 | 略タイトル:IEEE trans. reliab キータイトル:IEEE transactions on reliability |
|---|---|
| 巻次年月次 | 12 (1963)- |
| 本文言語 | 英語 |
| 書誌ID | 2000000825 |
| ISSN | 00189529 |
| NCID | AA00668109 |